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线性膨胀系数的测定实验报告，热导系数检测
发布时间： 2024-08-18 12:17 更新时间： 2024-09-17 11:00
线性膨胀系数的测定实验报告，热导系数检测
近期购买的英飞凌IGBT器件进行结壳热阻测试，要求分别测试IGBT芯片及二极管芯片的结壳热阻值，测试结果如下所示：
IGBT芯片结壳热阻测试：
Zthjc1和Zthjc2两曲线在分离点的值Zthjc（ts）不一定等于稳态时的结壳热阻Rthjc，原因是在稳态时（需要很长时间）和在瞬态ts时器件内部的热流分布不一样。当Zthjc(ts)thjc。这种情况下，Zthjc1和Zthjc2两条曲线就需要转换成与其对应的结构函数来确定结壳热阻。
二极管结壳热阻测试：
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