线性膨胀系数的测定实验报告，热导系数检测

近期购买的英飞凌IGBT器件进行结壳热阻测试，要求分别测试IGBT芯片及二极管芯片的结壳热阻值，测试结果如下所示：

IGBT芯片结壳热阻测试：

Zthjc1和Zthjc2两曲线在分离点的值Zthjc（ts）不一定等于稳态时的结壳热阻Rthjc，原因是在稳态时（需要很长时间）和在瞬态ts时器件内部的热流分布不一样。当Zthjc(ts)thjc。这种情况下，Zthjc1和Zthjc2两条曲线就需要转换成与其对应的结构函数来确定结壳热阻。

二极管结壳热阻测试：