高分子材料检测成分，上海xps测试

化学态与结构分析——窄区扫描（也叫精细谱）

如果测定化学位移，或者进行一些数据处理，如峰拟合、退卷积、深度剖析等，则必须进行窄扫描以得到**的峰位和好的峰形。扫描宽度应足以使峰的两边完整，通常为10eV~30eV。可用计算机收集数据并进行多次扫描。

三、 X射线光电子能谱定量分析方法与原理：

基本原理：经X射线辐照后，从样品表面出射的光电子的强度（I，指特征峰的峰面积）与样品中该原子的浓度（n）有线性关系，因此可以利用它进行元素的半定量分析。

鉴于光电子的强度不仅与原子的浓度有关，还与光电子的平均自由程、样品的表面光洁度，元素所处的化学状态，X射线源强度以及仪器的状态有关。因此，XPS技术一般不能给出所分析元素的含量，仅能提供各元素的相对含量