测试高分子材料，xps元素分析测试

紫外光电子能谱分析（UPS—Ultra-violet photoelectron Spectroscopy）

XPS分析使用的光源阳极是Mg或Al，其能量分别是1487和1254eV。

(1)Mg/Al双阳极X射线源能量范围适中（Mg：1253.7，Al：1486.7eV）;(2)X射线的能量范围窄（0.7和0.85 eV）能激发几乎所有的元素产生光电子；(3)靶材稳定，容易保存以及具有较高的寿命

UPS的光源为氦放电灯，能量为21.2或40.8eV，其能量只能够激发出价带电子，因此主要用于价带分析。

深度剖面

分析用离子束溅射剥蚀表面,用X射线光电子谱进行分析,两者交替进行, 可以得到元素及其化学状态的深度分布。

四、制样

样品尺寸不宜过大，一般应不大于10x10x5mm；

样品表面应大体上平整；

样品好能够导电；

表面应作脱脂处理，避免用手触摸；

原始表面应尽可能尽快测试，避免长时间在空气中存放；

粉末样品可以压成块状，或撒布在胶带上；