高分子材料检测技术，天津xps测试
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy（X射线光电子能谱）, 早期也被称为ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。X射线光电子能谱是重要的表面分析技术之一，它不仅能探测表面的化学组成，而且可以确定各元素的化学状态。
一、 X射线光电子能谱分析的基本原理：
一定能量的X光照射到样品表面，使样品中原子或者分子的内层电子受激发射出来，（被光子激发出的电子称为光电子），然后测量这些光电子的能量分布。通过研究他们的能量分布来确定样品表面的组成和结构
二、 X射线光电子能谱分析的具体方法：
1. 化合物中元素种类的分析——全谱分析
对于一个化学成分未知的样品，首先应作全谱扫描，来初步判定表面的化学成分。全谱能量扫描范围一般是0-1200 eV ,因为几乎所有元素的强峰都在这一范围这内。
由于组成元素的光电子线和俄歇线的特征能量值具唯一性，与XPS标准谱图手册和数据库的结合能进行对比，可以用来鉴别某特定元素的存在。
