聚乙烯分子量检测，材料dsc分析

利用XPS谱图鉴定物质成分：

利用某元素原子中电子的特征结合能来鉴别物质。

自旋-轨道偶合引起的能级分裂，谱线分裂成双线（强度比），特别对于微量元素。

利用俄歇化学位移标识谱图鉴定物质：如：Cu与CuO的化学位移为0.4eV，Ag与Ag2SO4化学位移为0.1eV而对它们来说俄歇化学位移相当大

应用

由于元素的结合能是唯一标识的，因而我们可以用 xps 作：

（1）组成样品的元素的标定

（2）各元素含量的计算

（3）元素的侧向分布

（4）化学态标定

（5）测量超薄（小于5纳米）样品的厚度

XPS 实验结果如何分析

XPSpeak 软件,或者 origin

XPS 手册 C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, et al., Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy [M], (G. E. Muilenberg, editor) Perkin Elmer Corporation (Physical Electronics), 1979