折射率测量方法，阻抗测试标准

R/T测量结果如图4所示，这些测量结果显示了经典的a-sI：H薄膜的R/T结果。从R/T结果中可以看出，样品1604211比其他两个样品产生更多的干涉条纹，而样品1604213的干涉条纹数量最少。在最常用的使用方式中，可以利用R/T测量结果中的干涉条纹图案结合样品的折射率来识别样品的厚度。

在R/T测量中的干涉条纹可以看作是从薄膜的前后表面反射出来的光之间的建设性干涉的结果。因此，厚的薄膜将比薄的薄膜表现出更多的干涉条纹。因此，通过比较每个样品的干涉条纹数，我们可以推断出样品1604211是最厚的，而样品1604213是最薄的。

这些薄膜在450 nm处的透光率和反射率值见Tab。3.2.从表中可以看出，与其他样品相比，样品1604213在450 nm处产生最高的透射率和最低的反射率（薄膜侧）。同时，所有这些样品在450 nm处的吸收率相似。