高分子材料折射率测试,阻抗曲线测量
发布时间:2024-11-22
高分子材料折射率测试,阻抗曲线测量
图1: (a)使用cosh函数拟合TaFs包络的结果。上包络线的cosh函数参数如下:a= 0.3425、b= 0.339、c= 方程5和d= 0.01。而a= 0.84、b= 0.425、c= 3.3和d= 0.001。(B)对cos(Φ)与nFad= 1.679和nFbd= 0.101的拟合结果。
cos(Φ)通过R
上述发展表明,有几种可能的方法可以从透射率数据的处理中提取薄膜的光学特性信息。然而,我们已经看到,这种治疗方法似乎缺乏准确性。这就是为什么在本节中,我们将展示可以从反射率数据中提取相同类型的信息。
如果我们考虑Ras+Tas=1,我们可以从等式中计算出1/(1−Rs)以获取:
可以表明:
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