如何测折光率,输入阻抗测量
发布时间:2024-11-26
如何测折光率,输入阻抗测量
使用三次样条曲线拟合1/(1−Rs)包络线的结果。(B)对cos(Φ)与nFad= 1.673和nFbd= 0.1075的拟合结果。
高吸收区表面膜厚度、表面粗糙度和折射率测定
在进行薄膜厚度测定的情况下,我们可以首先计算薄膜折射率nF的实部,包含该nF的信息出现在干涉条纹不再存在的完全吸收区域找到。
如果我们假设基底粗糙度的值σs≃0,这通常是沉积在玻璃上的薄膜材料的情况,则可以根据等式计算出nF(方程7)
用(方程7)计算得到的nF可以用来计算薄膜的厚度。该计算可以利用拟合得到的cos(Φ)知识来进行。然后,我们可以比较包含赫茨伯格nf近似信息的cos(Φ)部分。
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