折光率怎么测，阻抗试验

nFa和nFb的值由cos（Φ）的拟合得到。

然后，通过等式得到薄膜表面粗糙度σa（方程9），假设RF∼RFa：

方程9

其中，参数nF是高吸收区（∼400 nm）中的一个恒定值，可以使用等式从nF计算中选择(方程7)。

使用T和R数据拟合不同方法的表面粗糙度和折射率的变化。3.1使用T和R的拟合程序对表面粗糙度和折射率值有很好的一致性，而对厚度值的∼变化为3%。

表1

表1：通过T和R进行拟合，计算得到的薄膜材料的σa、nF和厚度的结果。

我们可以看到，尽管在cos期间缺乏精度(Φ) 穿过T使用的变体TaFs/(1 − RaFs), 玻尔兹曼，以及cosh 功能，我们仍然获得了良好的一致性σa和nF. 另一方面，厚度的值具有3%的微小变化。