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折光率测定的实验报告,交流阻抗试验
发布时间:2024-07-06

折光率测定的实验报告,交流阻抗试验

Raf、Rfs、Taf和Tfs均使用kf=0进行计算。假设kf的值为0,因为在低波长即:400nm(其中kf=λα4andα(400nm)≃3×105),kf为≃0.003。在方程式中使用时,kf2的值。

如(ns−nf)2使用的等式(方程10)可以c+bx+ax2=0wIThx=αd的形式表达。通过计算判别式,我们可以通过以下方法找到这个二次方程的唯一正解:

方程11

因此,吸收系数α(λ)可以如下:

方程12

我们现在可以用上面的方程计算薄膜半导体材料的例子的吸收系数。然后将该吸收系数计算的结果与α(E) = 15000 * (E − 1.1)4.由于na 和nb 对于每个拟合过程的值,我们获得了相同的样本厚度的四舍五入值。


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