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折光率如何测定,输出阻抗测量
发布时间:2024-07-06

折光率如何测定,输出阻抗测量

可以得出结论σa、nF,并且可以通过cos获得非吸收衬底上的薄膜材料的厚度使用透射率或反射率数据进行拟合。

此外,在下面的部分中,我们观察到我们需要透射率和反射率数据才能获得薄膜材料的吸收系数。这意味着σa, nF, 并且来自透射率或反射率数据的厚度参数具有相同的优点。

厚基板上薄膜吸收系数的测定

吸收系数可以从等式开始推导出来。我们可以重写成一个二次方程,如中所示(方程10)。

方程10

其中,Raf、Rfs、Taf和Tfs均使用kf=0进行计算。假设kf的值为0,因为在低波长即:400nm(其中kf=λα4andα(400nm)≃3×105),kf为≃0.003。在方程式中使用时,kf2的值。


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