半导体封装测试公司，绝缘件老化试验

半导体封装测试公司，绝缘件老化试验

1.DUT

需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT（Device Under Test,一般就是被称为‘被测器件’）

器件引脚的常识

（1）数字电路中的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分，

信号脚：包含输入、输出、三态和双向四类 输入：在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号，它让输入管脚感应到电压并将它转换为内部逻辑能够识别的‘0’和‘1’电平，（就是外部信号到输入管脚再到0和1） 输出：输出管脚提供正确的逻辑‘0’或‘1’的电压，并提供合适的驱动力---电流 三态：输出的一类，它有关闭的能力（达到高阻态的状态）

（2）电源脚

“电源“和”地”统称为电源脚，因为它们组成供电回路，有着与信号引脚不同的电路结构。 VCC：TTL器件的供电输入引脚。 VDD：CMOS器件的供电输入引脚。 VSS：为VCC或VDD提供电流回路的引脚 GND：地，为信号引脚或其他电路节点提供参考0电位，2.测试程序

目的：半导体测试程序的目的是控制测试系统硬件一一定的方式保证被测器件达到或超越他那些设计书内的设计指标

测试程序通常被分为几部分：DC测试，功能测试，AC测试等。 （1）DC测试验证电压及电流参数； （2）功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能操作的正确性； （2）AC测试用以保证芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作。3.测试系统（ATE）

测试系统称为ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式（pattern）生成器和其他硬件项目的集合体，用于模仿被测器件将会在
应用中体验到的操作条件，以发现不合格的产品。 测试系统硬件由运行一系列指令（测试程序）的计算机控制，在测试时提供合适的电压、电流、时序和功能状态给DUT并检测DUT的响应，对比每次测试的结果和预先设定的界限，做出pass或fail的判断。

DC子系统包含有DPS、RVS、PMU

（1）DPS（Device Power Supplies,器件供电单元），DPS为被测器件的电源管脚提供电压和电流； （2）RVS（Reference Voltage Supplies,参考电压源），RVS为系统内部管脚测试单元的驱动和比较电路提供逻辑 0 和 1 电平提供参考电压； （3）PMU（Precision Measurement Unit,精密测量单元）PMU电路进行**的DC参数测试。4.PMU    PMU（Precision Measurement Unit，精密测量单元）用于**的 DC 参数测量，它能驱动电流进入器件而去量测电压或者为器件加上电压而去量测产生的电流。PMU 的数量跟

测试机的等级有关，低端的测试机往往只有一个 PMU，同过共享的方式被测试通道（testchannel）逐次使用；中端的则有一组 PMU，通常为 8 个或 16 个，而一组通道往往也是 8
个或 16 个，这样可以整组逐次使用；而高端的测试机则会采用 per pin 的结构，每个 channel配置一个 PMU。
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