半导体测试机构，铜加速盐雾试验国标

半导体测试机构，铜加速盐雾试验国标

产品特点

1、程控高压源10~1400V，提供2000V选配；

2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A选配；

3、驱动电压10mV~40V

4、控制极电流10uA~10mA；

5、16位ADC，100K/S采样速率；

6、自动识别器件极性 NPN/PNP

7、四线开尔文连接保证加载测量的准确

8、通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验

9、不同的封装形式提供对应的夹具和适配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

10、半导体分立器件静态参数测试系统能测很多电子元器件（如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等）；

11、西安天光测控DCT1401半导体分立器件静态参数测试系统能测试静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on) ）

12、结电容参数也可以测试，诸如Cka，Ciss，Crss，Coss；

13、脉冲电流自动加热功能，方便高温测试，无需外挂升温装置；

14、Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin），连接分选机*高效率1h/9000个；

15、西安天光测控DCT1401半导体分立器件静态参数测试系统在各大电子厂的IQC、实验室有着广泛的应用；

产品介绍（DCT1401半导体分立器件静态参数测试系统）

3.1、产品介绍

西安天光测控DCT1401半导体分立器件静态参数测试系统 是由我公司技术团队结合半导体功率器件测试的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计的全新一代“半导体分立器件静态参数测试系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。

测控DCT1401半导体分立器件静态参数测试系统脉冲信号源输出方面，高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A）栅极电压40V，栅极电流10mA，分辨率*高至1mV / 30pA，精度*高可至0.5%。程控软件基于Lab VIEW平台编写，填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大类26分类的电子元器件，涵盖电子产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性。

产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器，还能够通过Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”、“失效分析”、“选型配对”、“量产测试”等不同场景。

测控DCT1401半导体分立器件静态参数测试系统产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常**的表现。创新的“点控式夹具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为EXCEL文本。

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