第三方失效分析检测，盐雾试验钢片

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纵观当今电子信息技术发展状况，自进入二十世纪后期以来发展尤为猛烈，而电子元器件作为发展电子信息技术的基础，一直扮演着十分重要的角色。于是，了解电子元器件失效分析也是人们一直关心的问题！开路的可能失效机理：过电应力（EOS）损伤、金属电迁移、金属的电化学腐蚀、压焊点脱落、CMOS电路的闩锁效应、塑封器件的爆米花效应。金属电迁移过电应力（EOS）损伤金属的电化学腐蚀压焊点脱落CMOS电路的闩锁效应塑封

纵观当今电子信息技术发展状况，自进入二十世纪后期以来发展尤为猛烈，而电子元器件作为发展电子信息技术的基础，一直扮演着十分重要的角色。于是，了解电子元器件失效分析也是人们一直关心的问题！
开路的可能失效机理：
过电应力（EOS）损伤、金属电迁移、金属的电化学腐蚀、压焊点脱落、CMOS电路的闩锁效应、塑封器件的爆米花效应。

金属电迁移

金属的电化学腐蚀

CMOS电路的闩锁效应