电缆可靠性测试，连接器失效分析

电缆可靠性测试，连接器失效分析

①充电电流大，表针上升速度快，放电时间长，表针的退回速度慢，说明容量足。
②充电电流小，表针上升速度慢，放电时间短，表针的退回速度快，说明容量小、质量差。
③充电电流为零，表针不动，说明电解电容器已经失效。
④放电到后，表针退回到终了时指示的阻值大，说明绝缘性能好，漏电小。
⑤放电到后，表针退回到终了时指示的阻值小，说明绝缘性能差，漏电严重。

阻失效分析
电阻器、电位器的失效机理视类型不同而不同。非线形电阻器和电位器主要失效模式为开路、阻值漂移、引线机械损伤和接触损坏；线绕电阻器和电位器主要失效模式为开路、引线机械损伤和接触损坏。主要有以下四类：

电阻容易产生变质和开路故障。电阻变质后往往是阻值变大的漂移。电阻一般不进行修理，而直接更换新电阻。线绕电阻当电阻丝烧断时，某些情况下可将烧断处理重新焊接后使用。
电阻变质多是由于散热不良、过分潮湿或制造时产生缺陷等原因造成的，而烧坏则是因电路不正常，如短路、过载等原因所引起。电阻烧坏常见有两种现象，一种是电流过大使电阻发热引起电阻烧坏，此时电阻表面可见焦糊状，很容易发现；另一种情况是由于瞬间高压加到电阻上引起电阻开路或阻值变大，这种情况下电阻表面一般没有明显改变，在高压电路中经常可发现这种故障现象的电阻。
可变电阻器或电位器主要有线绕和非线绕两种。它们共同的失效模式有：参数漂移、开路、短路、接触不良、动噪声大，机械损伤等。但是实际数据表明：实验室试验与现场使用之间主要的失效模式差异较大，实验室故障以参数漂移居多，而现场以接触不良、开路居多。
电位器接触不良的故障，在现场使用中普遍存在。如在电信设备中达90% ，在电视机中约占87%，故接触不良对电位器是致命的薄弱环节。造成接触不良的主要原因如下：