折射率测量，电化学交流阻抗测试

通过R/T测量得到的a-sI：H样品的(a)折射率、(B)厚度和(C)表面粗糙度的计算值。

结语

基于传输线法原理的低吸收区样品厚度和折射率测定方法，可以jingque地测量高透明性材料、薄膜和液晶等材料的参数，同时还能够有效地测量低吸收区材料的厚度和折射率参数。

该方法操作简单、成本低廉、实验条件宽松，具有较高的可靠性和准确性，为材料科学与工程中的相关研究提供了一种便捷、高效的分析手段。

我们相信，在进一步完善相关算法、模型以及设备设计的基础上，该方法将在实际生产与应用中发挥更广泛的作用，促进材料的优化设计、开发与推广。