光学性质检测，线材绝缘阻抗测试标准

可以用上面的方程计算薄膜半导体材料的例子的吸收系数。然后将该吸收系数计算的结果与α(E) = 15000 * (E − 1.1）4.由于na 和nb 对于每个拟合过程的值，我们获得了相同的样本厚度的四舍五入值。

由于这些参数是区分每个拟合过程的吸收系数的终过程的唯一参数，因此我们获得了所有拟议拟合过程的波长相关吸收系数的相同变化。在图3中，我们可以看到，在低波长区域，吸收系数的给定值和计算值之间有很好的一致性。

图3

图3：吸收系数α（λ）的结果。黑色的曲线表示给定的吸收系数。

为了验证利用等式对吸收系数的计算（方程10），我们将进一步将此结果与RITTeR-WeIseR 如果我们回顾一下等式（方程10）和它的简化形式，即.c+bx+ax2=0，，我们有a=−1，b=（1−Rafs）TafTfs（1−Raf）Tafs，和c=Rfs.当薄膜材料表面粗糙度为零时，我们得到：