高分子分子量鉴定，扫描电镜测试广州

该方法于20世纪30年代首次开发。它们能够实现高分辨率成像（几埃），使得区分原子或分子水平的特征成为可能。数字成像技术和同步加速器辐射设施的发展促进了成像技术的使用。

同步加速器X射线和中子辐射是无损检测技术，可在原子和晶体水平上洞察微观结构、残余应力、应变和应力场、晶体学织构等。

用于成像的常用实验室X射线源是X射线管，在真空X射线管中的灯丝和金属靶之间施加30–60kV的偏压，使灯丝发射的电子以高速（能量）与金属靶碰撞，并辐射X射线。

X射线的波长约为0.5-2.5，取决于目标材料。

*常用的金属靶是铜，它发射波长为1.54的强X射线。XRI系统通常更便宜、更容易获得，适用于具有较高相位对比度的材料，如玻璃纤维增强复合材料。