高分子分子量测定，xps分峰怎么分析

聚合物增韧机理在增韧研究方面应用：高分子聚合物断裂通常有脆性断裂与韧性断裂两种。脆性断裂截面比较平滑，韧性断裂截面比较粗糙，聚合物增韧是使聚合物断裂模式从脆性断裂向韧性断裂过渡，使得聚合物受拉伸后断裂伸长率大，受冲击后不容易损坏。

2、TEM——基本形貌、结晶结构、高分子的组装形貌等信息

光学显微镜下不能看到0.2微米以下的细微结构，即所谓亚显微结构或者超细结构。为了清晰地观察到这些构造，需要选用较短波长光源来提高显微镜分辨率。

电子显微镜（Transmission electronmicroscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。一般透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm，放大倍数为几万~百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米，光学显微镜下不能看到的结构，又称“亚显微结构”。

电子束与样品之间的相互作用图来源：《Characterization Techniquesof Nanomaterials》[书]