高分子材料试验检测中心，xps分析含量

扫描探针显微镜原理：基于量子的隧道效应，利用探针与样品在近距离（<0.1nm）时，由于二者存在电位差而产生隧道电流，隧道电流对距离非常敏感，控制探针在被检测样品的表面进行扫描，同时记录下扫描过程中探针和样品表面的相互作用，就能得到样品表面的相关信息。很明显，用该方法获取被测样品表面信息分辨率依赖于控制扫描定位精度及探针作用尺寸（即探针的尖锐度）。

STM要求扫描的范围从10nm到1微米以上，可以用来观察原子水平的样品形貌。

典型STM像

相较于其他显微镜技术的各项性能指标比较

乳胶薄膜的AFM图和三维立体图（单位：nm）

有严重缺陷和较为完美的高分子镀膜（单位：nm）