高分子膜检测，电感耦合等离子体质谱法的优缺点

小角X射线散射（SAXS）——晶体在原子尺寸上的排列

晶体内原子受到入射到晶体内的X射线作用，迫使其产生强迫振动，从而产生一种新型X射线源，发出次生X射线。

如果被照射试样具有不同电子密度的非周期性结构，则次生X射线不会发生干涉现象，该现象被称为漫射X射线衍射。X射线散射需要在小角度范围内测定，因此又被称为小角X射线散射。

试样制备要求：

①块状试样：块状试样太厚，光束无法通过，因此必须减薄；

②薄膜试样：如薄膜试样厚度不够，可以用几片相同的试样叠加在一起测试；

③粉末试样：粉末试样应研磨成无颗粒感，测试时，需用非常薄的铝箔（载体）包住，或把粉末均匀搅拌在火棉胶中，制成合适厚度的片状试样；

④纤维试样：对于纤维状试样，应尽可能剪碎，如同粉末试样那样制备；

⑤颗粒状试样：对不能磨细的粗颗粒状样品来说，则较为繁琐。一个方法是将颗粒尽量切成厚度相同的薄片，然后整齐地平铺在胶带上；另一个方法则是颗粒熔融或者溶解成片状试样，条件是试样的原始结构不被破坏；

⑥液体试样：溶液试样须注入毛细管中测试。制备溶液时，需注意：

1、溶质在溶剂中完全溶解，即无沉淀。

2、溶质与溶剂的电子密度差尽可能大。

应用于高分子材料天然及人工合成高聚物广泛存在着小角X射线散射，且具有多种不同性质。小角X射线散射用于高分子，其研究内容如下：

①通过Guinier散射测定高分子胶中胶粒的形状、粒度以及粒度分布等；

②通过Guinier散射研究结晶高分子中的晶粒、共混高分子中的微区（包括分散相和连续相）、高分子中的空洞和裂纹形状、尺寸及分布等；