高分子材料老化检测，xps光谱分析

TEM——基本形貌、结晶结构、高分子的组装形貌等信息

光学显微镜下不能看到0.2微米以下的细微结构，即所谓亚显微结构或者超细结构。为了清晰地观察到这些构造，需要选用较短波长光源来提高显微镜分辨率。

电子显微镜（Transmission electronmicroscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。一般透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm，放大倍数为几万~百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米，光学显微镜下不能看到的结构，又称“亚显微结构”。

电子束与样品之间的相互作用图来源：《Characterization Techniquesof Nanomaterials》[书]

TEM系统由以下几部分组成：

电子枪：发射电子的。它包括阴极、栅极、阳极。阴极管出射电子经过栅极小孔产生射线束并在阳极电压下加速后入射到聚光镜中，起着加速电子束、加压电子束作用。

聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。

样品杆：装载需观察的样品。物镜：聚焦成像，一次放大。中间镜：二次放大，并控制成像模式（图像模式或者电子衍射模式）。

投影镜：三次放大。荧光屏：将电子信号转化为可见光，供操作者观察。

CCD相机：电荷耦合元件，将光学影像转化为数字信号。

透射电镜基本构造示意图