隔膜电阻测试，反射率光谱测量

TCPM测量的设备配置，使用放置在样品后面的一个探测器来测量通过样品的源的传输通量强度。B).TCPM结果是吸收系数谱中的干涉条纹不再存在。

提出了一种新颖的CPM方法，该方法利用放置在薄膜样品后的光子探测器。实验设置如图10a所示。这种新方法的开发旨在抑制光吸收光谱中的干涉条纹。通过使用透射光而不是入射光作为光通量的参考，来实现干涉条纹的抑制。

透射光中的干涉存在抑制了样品光电流与探测器光电流之间终比率中的干涉。这种方法在sasakI的论文[23]中被应用，并进一步被引入为“透射模式CPM”（TCPM）。