单板阻抗测试，漫反射率测试

FTIR光谱仪在400到1750 nm之间工作，光源光通过光纤发送到外部样品支架的前面。光学高通滤光器可用于提高测量的动态范围。

图2显示了样品、外部样品室中的光电二极管和光纤的结构。在图2中，我们可以看到入射光束通过样品透射，到达样品后面的光电二极管。通过放置在样品后面的光电二极管产生的光电流密度来测量入射光的透射通量强度。

图2：在样品室中进行透过率测量的样品、光电二极管和光纤的配置

光电二极管被放置在样品后面，测量样品传输的部分。

透射率测量中的入射通量强度可以通过将样品从样品架中移除，同时将光电二极管保持在样品架中来测量。在这种配置下，光电二极管将测量来自迈克尔逊干涉仪的传射光束的通量强度。