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绝缘套管绝缘电阻测试,可见反射率测量
发布时间:2024-11-26

绝缘套管绝缘电阻测试,可见反射率测量

在光电流恒定的情况下,半导体带隙中的准费米能级保持恒定。因此,重组中心的数量也保持不变,这确保了流动性和寿命的恒定产物。由上式可知,我们得到了所产生的光电流和吸收系数的比例如下:

方程10

所述的用于测量半导体材料吸收系数的光电流测量方法被称为常数光电流方法(CPM),早由GRImmeIss和MonemaR引入并称之为恒定光电导技术,其实验装置如图9a所示。该技术被称为标准模式的恒定光电流方法(sCPM)。

图9:sCPM测量的(a)设备配置,使用一个检测器测量源的通量强度


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