高分子材料测试方法，semeds测试

X 射线特征谱 特征 X 射线又称标识射线， 它具有特定的波长， 且

波长取决于阳极靶元素的原子序数。 当管电压超过某一临界值 K 激发电压

时（如对鉬靶超过 20 千伏）， 强度分布曲线 I（λ ） 将产生显著的变化，

即在连续 X 射线谱某几个特定波长的地方， 强度突然显著地增大。 由于它

们的波长反映了靶材料的特征， 因此称之为特征 X 射线， 并由它们构成了

特征 X 射线谱。

X 射线特征谱特点（1） 特征 X 射线的产生可以从原子结构的观点得到

解释。（2） 特征 X 射线的相对强度是由各能级间的跃迁几率决定的， 另外

还与跃迁前原来壳层上的电子数多少有关。（3） 特征 X 射线产生的根本原

因是原子内层电子的跃迁

5、 简述 X 射线衍射的概念及几种基本方法。

X 射线衍射是晶体对 X 射线散射的一种特殊表现形式， 衍射的本质：

较大数量的原子互相协作而产生的一种散射现象。 要发生衍射必须满足布

拉格方程。