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原材料试验检测,eds能谱图怎么分析
发布时间:2024-11-27

原材料试验检测,eds能谱图怎么分析

 X 射线光谱术。 它包括 X 射线荧光化学成份分析和微区电子探针

成份分析等。

3、 X 射线的本质是什么? 用于晶体衍射的 X 射线波长范围是多少?

-3X 射线是波长 10~10nm 之间的电磁波。一般衍射工作中使用的波长

在 0.05~0.25nm 左右。

X光光子能量 E=hυ =≈1.式中 h: 普朗克常数 值为10-34J2s-1;

υ : X 射线频率(s-1)

c: X 射线的速度 值为 2.9983108m2s-1 λ : 短波线(nm).

产生衍射的极限条件

 1) 在晶体中产生衍射的波长是有限度的。 在电磁波的宽阔波长范围

里, 只有在 X 射线波长范围内的电磁波才适合探测晶体结构。 这个结论可

以从布拉格方程中得出。

2) 由于 sinθ 不能大于 1, 因此, nλ /2d=sinθ <1 ,即 nλ ﹤ 2d,对

衍射而言, n 的小值为1 (n=0相当于透射方向上的衍射线束, 无法观测)。

所以在任何可观测的衍射角下, 产生衍射的条件为λ ﹤ 2d。


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