陶瓷透光率试验，tem表征分析

陶瓷透光率试验，tem表征分析

扫描探针显微镜（

扫描探针显微镜（SPM）是扫描隧道显微镜与原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等一系列探针显微镜的统称，是国际上近年来发展起来的表面分析仪器，可以获得材料表面在纳米尺度上的形貌、力学、电学等信息，被广泛应用于科研、教学及工业领域。

 本实验室的扫描探针显微镜于2017年安装验收，具有AFM、EFM、MFM、KPFM、Ramp、TUNA等多种功能及附件，可以获得材料表面的形貌以及与形貌对应的磁畴，电势，导电性，弹性模量等信息。

为了更好地服务于院内校内师生，计划于本月开展基础上机培训——AFM形貌测试，取得上机操作资格的学生可以自主上机测试，后期也可以根据需要再进行功能的培训。

培训内容：AFM形貌测试

            1 仪器工作原理简介

            2 样品装载

            3 样品扫描