硅片组件反射率测试，三元材料粉末电导率检测

硅片组件反射率测试，三元材料粉末电导率检测

启动光源，预热以达到稳定状态（预热时间根据光源型号设定）；

注意：光纤与光源连接后，可通过转动调节光阑旋钮控制光强；如果用户在实验 操作中对光源的光谱有特殊要求，可在插片凹槽处放置滤光片、衰减片等光学器件。

2. 在 PC 上点击 Oceanview 图标，启动软件，连接光谱仪。

反射率测试的软件操作步骤：

OceanView 软件根据如下公式计算样品的反射率：

其中：

=波长λ处样品光谱的强度

=波长λ处背景光谱的强度

=波长λ处参考光谱的强度