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反射比检测,粘结剂粉末电导率检测

更新时间
2024-11-17 11:00:00
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详细介绍

反射比检测,粘结剂粉末电导率检测

STAGE 反射探头支架适用于 150 nm 的光学介质层或其他材料反射率的测量,可配置直 径 6.35 mm 的光纤探头或其他采样光学器件一起使用。探头到样品的高度调节范围约为 60 mm。使用 STAGE 反射探头支架时,需注意以下两点:

1. 在基板上放置样品时,以不同直径的同心圆为参照。

2. 适配探头规格:直径 6.35 mm (1/4″)。

3. 下图中的规格只能测量 0°入射时的反射率。

STAGE 反射探头支架规格▼

工程规格

STAGE

基板直径:

152.4 mm

置样区域直径:

101.6 mm

重量:

620 g

高度:

滑杆高度可调至 63.5 mm


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