半导体测试实验室，线路老化测试
| 更新时间 2025-01-08 11:00:00 价格 100元 / 件 联系电话 13083509927 联系手机 18115771803 联系人 奚家和 立即询价 |
详细介绍
半导体测试实验室，线路老化测试
器件在两种不同的散热环境下结温随着时间的变化曲线
器件在两种不同的散热环境下的微分结构函数
英飞凌是T3Ster的战略合作伙伴，共同制定了全新的结壳热阻测试标准JESD51-14。通过T3Ster，不仅可以测试器件的结壳热阻，还可以通过结构函数分析器件热流传导路径上各层结构的热阻值。
热仿真与热测试相结合
Simcenter Flotherm Flexx / FLOEFD 导入瞬态热阻测试仪T3Ster的测试数据，通过对Structure Fuction结构函数曲线的对比拟合，可以**地校准初始仿真模型。
经过校准的器件热模型，不仅结构尺寸信息准确，同时也能更加**的描述器件的瞬态热特性。
校准流程
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