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数字半导体测试,国标冲击功试验标准

更新时间
2025-01-07 11:00:00
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数字半导体测试,国标冲击功试验标准

双界面法测热阻

双界面法,顾名思义就是在样品散热底部分为两种情况测试,一种是干法,将样品底部不涂导热硅脂,将样品安装在热沉进行测试,测试方法和2.1电学法方式一致,另一种是湿法,在样品散热底部和热沉上均匀的涂上一层导热硅脂,所有的测试条件与干法完全保持一致,因为样品内部散热途径方式都一样,在与热沉连接处由于两者有差距会在此界面有一个分离现象,此分离点就是热阻值得点。

热阻软件拟合图如下


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