半导体探针测试，冲击振动试验标准

半导体探针测试，冲击振动试验标准

热测试

通过热测试硬件，例如Simcenter POWERTESTER、T3STER等，可以帮助研究人员进行器件温度测量和分析，获得准确而丰富的热特性数据，可靠性数据等，准确地准确评估功率器件的热特性和散热能力，及时有效地为产品研发和改进提供数据支撑。对器件进行热测试，将有效地提高产品质量，大幅度缩短测试时间，加速产品研发进程。

Simcenter POWERTESTER: 功率循环及热测试平台

Simcenter POWERTESTER具备先进的测试理念：同一个测试平台可以同时进行功率循环和热测试，任何与老化降级相关的热效应都可以在不移动待测器件的情况下通过结构函数在线监测，与传统的老练设备相比更加节省时间，能获得完整的失效数据。测试范围广，可测试MOSFET, IGBT以及二极管等器见。Simcenter POWERTESTER可预估器件寿命，帮助用户获得功率电子器件在真实应用条件下的使用寿命。

# Simcenter POWERTESTER在车规级功率器件热测试的典型应用

电动汽车用IGBT寿命预估：

寿命预估流程, 测试寿命曲线中的数据点并估算寿命