半导体失效分析实验室，酸性盐雾测试标准

半导体失效分析实验室，酸性盐雾测试标准

割断电阻在PCBA上与其他元器件的连接后，对失效样品进行测试。常温下测试，失效电阻阻值满足规格书要求，把失效样品放进40℃、90%RH温箱，串联一起加电400V，140小时后断电，在常温下测试发现失效电阻阻值发生明显减小，低于规格下线。

4.Thermal EMMI定位分析

前面分析可知：在高温高湿，带电一段时间后电阻阻值发现减小，低于规格下限，说明电阻内部可能发生漏电现象。为确认电阻内部的漏电位置，对电阻进行了thermal EMMI定位分析，查找电阻内部电阻漏电点。

膜式电阻器的电阻膜在晶粒边界上，或导电颗粒和黏结剂部分，总可能吸附非常少量的气体，它们构成了晶粒之间的中间层，阻碍了导电颗粒之间的接触，从而明显影响阻值。

温度和气压是影响气体吸附与解吸的主要环境因素。对于物理吸附，降温可增加平衡吸附量，升温则反之。由于气体吸附与解吸发生在电阻体的表面。所以对膜式电阻器的影响较为显著。阻值变化可达1%~2%。

氧化是长期起作用的因素（与吸附不同），氧化过程是由电阻体表面开始，逐步向内部深入。除了贵金属与合金薄膜电阻外，其他材料的电阻体均会受到空气中氧的影响。氧化的结果是阻值增大。电阻膜层愈薄，氧化影响就更明显。

(4)、有机保护层的影响

(5)、机械损伤

<span style="font-family:"">电阻的可靠很大程度上取决于电阻器的机械性能。电阻体、引线帽和引出线等均应具有足够的机械强度，基体缺陷、引线帽损坏或引线断裂均可导致电阻器失效。