电子器件失效分析技术，gmw3286-2011中性盐雾试验

电子器件失效分析技术，gmw3286-2011中性盐雾试验

失效模式：各种失效的现象及其表现的形式。

失效机理：是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。

1、电阻器的主要失效模式与失效机理为

1) 开路：主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。

2) 阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。

3) 引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。

4) 短路：银的迁移，电晕放电。

2、失效模式占失效总比例表

(1)、线绕电阻

失效模式

占失效总比例

开路

90%

阻值漂移

2%

引线断裂

7%

其它

1%

(2)、非线绕电阻

失效模式

占失效总比例

开路

49%

阻值漂移

22%

引线断裂

17%

其它

7%