触控屏失效分析，电泳盐雾试验

触控屏失效分析，电泳盐雾试验

开路 内涂料裂纹(温度和机械应力裂纹拉断内引线）；

电极键合不良致开路； 电路上电压测试接近电路电压；

取下二极管万用表两个方向测试阻抗都接近无穷大；

X-Ray；

CT；

正向压降增大20% 工艺缺陷+温度应力；

老化； 电压测试；

反向漏电流10x 工艺缺陷+温度应力；

老化； 漏电流测试；

三极管 集电极-发射极短路 EOS过电压、EOS过电流 目视检查；

万用表测试集电极-发射极是否导通；

X-Ray；

CT；

集电极-发射极开路 内涂料裂纹(温度和机械应力裂纹拉断内引线）； X-Ray；

CT；

直流放大系数hFE退化 工艺缺陷+温度应力；

老化； 放大电路场景中对比测试放大增益

MOS管 漏-源极短路 EOS过电压、EOS过电流、ESD；

外部机械应力； 目视检查；

万用表测试漏-源极是否导通；

X-Ray；

CT；

三个电极短路 浪涌引起瞬时过功率导致热烧毁；

芯片内部散热粘接不良，热阻大，芯片温升 过高致热奔烧毁；

外部机械应力； 目视检查；

万用表测试三个电极是否导通；

X-Ray；

CT；

漏-源极开路 内涂料裂纹(温度和机械应力裂纹拉断内引线）； X-Ray；

CT；

漏-源极导通阻抗10x 工艺缺陷+温度应力；

老化； 万用表测试导通阻抗

增益1/10 工艺缺陷+温度应力；

老化； 放大电路场景中对比测试放大增益

栅极漏电流10x 工艺缺陷+温度应力；

老化； 漏电流测试

栅极浮空，电压振荡 MCU端口呈高阻态。

设计问题（NMOS未设计下拉电阻，PMOS未设计上拉电阻）；

贴片工艺问题（NMOS栅极下拉电阻虚焊，PMOS栅极上拉电阻虚焊）； 检查电路设计；

电阻虚焊检查；

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