无源器件失效分析，电子芯片失效分析

无源器件失效分析，电子芯片失效分析

　1.3引起电容器电参数恶化的主要失效机理

　　①受潮或表面污染；

　　②银离子迁移；

　　③自愈效应；

　　④电介质电老化与热老化；

　　⑤工作电解液挥发和变稠；

　　⑥电极腐蚀；

　　⑦湿式电解电容器中电介质腐蚀；

　　⑧杂质与有害离子的作用；

　　⑨引出线和电极的接触电阻增大。

　　1.4引起电容器漏液的主要原因

　　①电场作用下浸渍料分解放气使壳内气压上升；

　　②电容器金属外壳与密封盖焊接不佳；

　　③绝缘子与外壳或引线焊接不佳；

　　④半密封电容器机械密封不良；

　　⑤半密封电容器引线表面不够光洁；

　　⑥工作电解液腐蚀焊点。

　　1.5引起电容器引线腐蚀或断裂的主要原因

　　①高温度环境中电场作用下产生电化学腐蚀；

　　②电解液沿引线渗漏，使引线遭受化学腐蚀；

　　③引线在电容器制造过程中受到机械损伤；

　　④引线的机械强度不够。

　　1.6引起电容器绝缘子破裂的主要原因

　　①机械损伤；

　　②玻璃粉绝缘子烧结过程中残留热力过大；

　　③焊接温度过高或受热不均匀。

　　1.7引起绝缘子表面飞弧的主要原因

　　①绝缘子表面受潮，使表面绝缘电阻下降；

　　②绝缘子设计不合理

　　③绝缘子选用不当

　　④环境气压过低

　　电容器击穿、开路、引线断裂、绝缘子破裂等使电容器完全失去工作能力的失效属致命性失效，其余一些失效会使电容不能满足使用要求，并逐渐向致命失效过渡；

　　电容器在工作应力与环境应力综合作用下，工作一段时间后，会分别或同时产生某些失效模式。同一失效模式有多种失效机理，同一失效机理又可产生多种失效模式。失效模式与失效机理之间的关系不是一一对应的。