电子元件失效检测分析，芯片失效分析公司

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非破坏检查

X射线透视技术

以低密度区为背景，观察材料的高密度区的密度异常点

透视X光的被样品局部吸收后成象的异常

反射式扫描声学显微术（C－SAM）

以高密度区为背景，观察材料内部空隙或低密度区

超声波遇空隙受阻反射

X-Ray检测，即为在不破坏芯片情况下，利用X射线透视元器件（多方向及角度可选），检测元器件的封装情况，如气泡、邦定线异常，晶粒尺寸，支架方向等。

湿度导致失效

湿度过高，当含有酸碱性的灰尘落到电路板上时，将腐蚀元器件的焊点与接线处，造成焊点脱落，接头断裂。

湿度过高也是引起漏电耦合的主要原因。

而湿度过低又容易产生静电，所以环境的湿度应控制在合理的水平。

过高电压导致器件失效

施加在元器件上的电压稳定性是保证元器件正常工作的重要条件。过高的电压会增加元器件的热损耗，甚至造成电击穿。对于电容器而言，其失效率正比于电容电压的5次幂。对于集成电路而言，超过其大允许电压值的电压将造成器件的直接损坏。

电压击穿是指电子器件都有能承受的高耐压值，超过该允许值，器件存在失效风险。主动元件和被动元件失效的表现形式稍有差别，但也都有电压允许上限。晶体管元件都有耐压值，超过耐压值会对元件有损伤，比如超过二极管、电容等，电压超过元件的耐压值会导致它们击穿，如果能量很大会导致热击穿，元件会报废。

振动、冲击影响

机械振动与冲击会使一些内部有缺陷的元件加速失效，造成灾难性故障，机械振动还会使焊点、压线点发生松动，导致接触不良；若振动导致导线不应有的碰连，会产生一些意想不到的后果。

可能引起的故障模式，及失效分析。

电气过应力（Electrical Over Stress，EOS）是一种常见的损害电子器件的方式，是元器件常见的损坏原因，其表现方式是过压或者过流产生大量的热能，使元器件内部温度过高从而损坏元器件（大家常说的烧坏），是由电气系统中的脉冲导致的一种常见的损害电子器件的方式。