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可见反射率测试,熔点测定的实验
发布时间: 2024-09-01 08:02 更新时间: 2025-01-18 11:00

可见反射率测试,熔点测定的实验

FTPs技术已被应用于测量不同类型的半导体材料,如FTPs对微晶硅的广泛研究:2006年斯库拉蒂-梅劳德,2009年PoRuba等人研究了硅薄膜。

在FTPs中,光电流在测量过程中自动保持恒定,恒定的光电流是由于FTIR光照亮半导体样品的通量强度不变,因此得到了在等式中半导体样品中产生光电流的公式(方程8)仍然是有效的。


由于我们开发了一种光电流测量技术,使用FTIR光谱仪来测量透射率和反射率,在FTPs测量中,我们用半导体样品取代了光电二极管。


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