石墨电阻率测定，耐击穿电压的测试方法

由于我们开发了一种光电流测量技术，使用FTIR光谱仪来测量透射率和反射率，在FTPs测量中，我们用半导体样品取代了光电二极管。

这意味着我们不是测量光电二极管的光电流，而是测量样品暴露在入射光束下时的光电流。我们的FTPs测量采用了CPM的原理，以抑制吸收系数光谱中的干涉条纹，并获得其的干涉条纹 cm−1中的值。

获得吸收系数光谱

吸收系数，如公式(方程10)所述，是通过傅里叶变换红外光谱仪使用公式(方程11)进行测量的。它可以被描述为样品在照射下产生的光电流密度Jsample和样品透过的光通量强度FTRansmITTe的比值。

透过的光通量强度是通过测量放置在样品后面的光电二极管的光电流密度JTRansmITTe来获得的。使用光电二极管进行的测量被用作参考测量。