测量电阻丝的电阻率，击穿电压测量

近提出了半导体材料吸收系数测量方法，使用宽带光源的FTIR光谱仪代替单色。这种技术被称为FTPs（傅里叶变换光电流光谱学）。这项技术首先由Tomm等人在1997年提出，后来由PoRuba和Vanecek在2002年提出。

这些工作主要是为了薄膜硅光伏的研发，其中监测半导体层的质量。FTPs技术已被应用于测量不同类型的半导体材料，如FTPs对微晶硅的广泛研究：2006年斯库拉蒂-梅劳德，2009年PoRuba等人研究了硅薄膜。

在FTPs中，光电流在测量过程中自动保持恒定，恒定的光电流是由于FTIR光照亮半导体样品的通量强度不变，因此得到了在等式中半导体样品中产生光电流的公式（方程8）仍然是有效的。