公司新闻
绝缘套管绝缘电阻测试，可见反射率测量
发布时间： 2024-06-04 07:19 更新时间： 2024-12-03 11:00
绝缘套管绝缘电阻测试，可见反射率测量
在光电流恒定的情况下，半导体带隙中的准费米能级保持恒定。因此，重组中心的数量也保持不变，这确保了流动性和寿命的恒定产物。由上式可知，我们得到了所产生的光电流和吸收系数的比例如下：
方程10
所述的用于测量半导体材料吸收系数的光电流测量方法被称为常数光电流方法（CPM），早由GRImmeIss和MonemaR引入并称之为恒定光电导技术，其实验装置如图9a所示。该技术被称为标准模式的恒定光电流方法（sCPM）。
图9：sCPM测量的(a)设备配置，使用一个检测器测量源的通量强度
其他新闻
- 静电电阻测试，反射率试验 2024-12-03
- 合金电阻测试，塑胶反射率检测 2024-12-03
- 绝缘接地电阻测试，怎么测反射率 2024-12-03
- 地网阻抗测试，检测反射率 2024-12-03
- 宽频阻抗测试，塑料粒料反射率检测 2024-12-03
- 静态阻抗测试，反射率测定 2024-12-03
- 单板阻抗测试，漫反射率测试 2024-12-03
- lcr阻抗测试，光伏反射率检测 2024-12-03
- 导体直流电阻试验，可见光反射率检测 2024-12-03
- 静电阻抗测试，光谱反射率检测 2024-12-03
- 粉尘比电阻测定，反射率光谱检测 2024-12-03
- 阻抗管测试，反射率的测定方法 2024-12-03
- 绝缘胶带电阻检测，反射率测定检测 2024-12-03
- 粉尘比电阻检测，可见光反射测试 2024-12-03
- 接地电阻测量单位，塑料粒料反射率测试 2024-12-03
