加入收藏 在线留言 联系我们
关注微信
手机扫一扫 立刻联系商家
全国服务热线18115771803
公司新闻
绝缘接地电阻测试,怎么测反射率
发布时间: 2024-06-04 07:16 更新时间: 2025-01-28 11:00

绝缘接地电阻测试,怎么测反射率

在a-sI:H样品上测量的透射率实例。(B)从薄膜侧出发的a-sI:H样品的反射率的例子,RF。(C)从衬底侧出发的a-sI:H样品的反射率的例子,RS。透光率和反射率的测量是使用两个光电二极管,c-sI和InGaas。

图8:在单色光照明下,在具有偏置电压的非导电基板上沉积的半导体样品

利用FTIR光谱仪测量半导体材料的吸收系数

当具有两个共面电极的半导体被连续偏置电压偏振,并且暴露于具有图8所示的连续通量强度的单色光时,对于给定的深度x,光电流的产生可以描述为:

方程1

其中,E为电极之间施加的电场,l为电极的长度,σph为光导率,可以描述为:


联系方式

  • 电  话:13083509927
  • 销售经理:奚家和
  • 手  机:18115771803
  • 微  信:18036003620