诸城高分子材料检测，sem-eds分析

是一家集芯片高端PCB及仪器设备的研发、芯片级快速封装、ATE测试方案、Bench系统级测试方案、产品工程、可靠性认证、失效分析、材料分析等综合技术服务的一站式解决方案供应商。

能谱仪(EDS)是便捷，快速的微区元素分析设备，在半导体，金属，矿物等领域中已获得广泛应用。为让客户更好的使用布鲁克能谱，快速掌握能谱的测试方法和技巧，布鲁克受邀前往上海季丰电子股份有限公司，与一线测试人员进行线下面对面技术交流，并针对性地分享了能谱测试原理以及在半导体材料上的能谱测试与分析技巧。

当天有近二十位测试工程师参与培训交流，布鲁克应用工程师陈剑锋博士先与工程师交流，了解客户能谱测试的实际需求以及测试过程中出现的问题，以需求和问题为导向，并结合半导体材料特点，由浅入深地向与会工程师介绍了EDS的测试原理，探测器结构和常见问题（如轻元素定量，假峰识别，能谱空间分辨率等），就客户遇到的半导体材料表面纳米膜的成分测试，荷电现象及元素谱峰重叠等问题给出了测试技巧与解决方案。