有机高分子物检验，xps图像怎么分析

力学性能测试

1、SEM——通过SEM对材料断口、裂纹、磨痕等进行观察，进而评价其力学性能

自从1965年台商品扫描电镜问世以来，经过40多年的不断改进，扫描电镜的分辨率从台的25nm提高到现在的0.01nm，而且大多数扫描电镜都能与X射线波谱仪、X射线能谱仪等组合，成了表面微观世界可经行综合分析的多功能电子显微仪器。在材料领域，扫描电镜技术扮演了极为重要的角色，广泛用于多种材料形态结构，界面状况，损伤机制和材料性能预测的研究。

扫描电镜工作原理

扫描电镜由电子枪发射出来的电子束，在加速电压的作用下，经过磁透镜系统汇聚，形成直径为5nm，经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统，电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈，在它的作用下使电子束在样品表面扫描。

由于高能电子束在样品物质中的相互作用，其结果形成多种信息：二次电子，背反射电子，吸收电子，X射线，俄歇电子，阴极发光以及透射电子。这些信号由对应接收器接收并放大送至显像管栅极对显像管亮度进行调制。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的亮度一一对应，也就是说，电子束打到样品上一点时，在显像管荧光屏上就出现一个亮点。

扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法，把样品表面不同的特征，按顺序，成比例地转换为视频信号，完成一帧图像，从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种特征图像。