薄膜透光率的测定方法标准,x射线衍射分析
| 更新时间 2025-01-21 11:00:00 价格 100元 / 件 联系电话 13083509927 联系手机 18115771803 联系人 奚家和 立即询价 |
详细介绍
薄膜透光率的测定方法标准,x射线衍射分析
光学3D表面轮廓仪在测量中采用了自适应光学系统,提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能,可以根据被测物体的形状和表面特性,自动调节光路和光学参数,以达到好的成像效果。这种自适应光学系统的应用,不仅可以减少成像过程中的误差和失真,还可以提高成像的分辨率和清晰度。
此外,针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,SuperViewW光学3D表面轮廓仪的扩展型相移算法EPSI集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点,在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,自动滤除样品表面噪点,重建超光滑表面区域。
相关产品