回路阻抗测试方法，bet孔径孔隙率检测分析

回路阻抗测试方法，bet孔径孔隙率检测分析

BET测试理论是根据希朗诺尔、埃米特和泰勒三人提出的多分子层吸附模型，并推导出单层吸附量Vm与多层吸附量V间的关系方程，即的BET方程。。

仪器型号：TriStar II 3020

仪器技术参数

孔隙度：3.5～5000A

孔径：2nm～200nm

比表面：0.1~3500m2/g

测量重复精度：≤±3%

送样要求及注意事项

固体。200～1000mg于塑料离心管中。