杨氏模量的静态法测量，折射率的测定实验

杨氏模量的静态法测量，折射率的测定实验

应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

光学显微镜(OM)原理：利用可见光照射在试片表面造成局部散射或反射来形成不同的对比，因为可见光的波长高达 4000-7000埃，在解析度 (或谓鉴别率、解像能，指两点能被分辨的近距离) 的考量上，自然是差的。

适合分析材料： jingque测定物质的晶体结构，织构及应力，jingque的进行物相分析，定性分析，定量分析

应用领域： 广泛应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。

注意事项： 材料制备简单，只是材料尺寸不要太大，符合样品台标准就可以。

3、表征方式：核磁共振仪（NMR）