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薄膜光透过率检测,二极管电阻测量

更新时间
2024-11-18 11:00:00
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详细介绍

薄膜光透过率检测,二极管电阻测量

HG/T 4061.2-2008 磁卡用磁条.第2部分:高矫顽力磁条

7、T/ZZB 2435-2021 汽车传感器用高矫顽力烧结钐钴磁体

8、GB/T 13888-2009 在开磁路中测量磁性材料矫顽力的方法

9、GB/T 15120.6-2012 识别卡 记录技术 第6部分:磁条-高矫顽力


矫顽力检测范围

自动矫顽力器、软磁材料、磁块、电磁纯铁、不锈钢、数字式矫顽力器、非晶带材、坡莫合金、手动矫顽力器、电磁铁、软磁薄膜、定制矫顽器、铁磁材料、超细合金、软磁材料、铁镓合金、纯铁、一体化矫顽器、继电器零部件、磁钢、不锈钢、永磁铁、电动矫顽力器等。


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