薄膜介质损耗测试,锂电池内阻测试
| 更新时间 2024-11-17 11:00:00 价格 100元 / 件 联系电话 13083509927 联系手机 18115771803 联系人 奚家和 立即询价 |
详细介绍
薄膜介质损耗测试,锂电池内阻测试
根据ψ平面与测角仪2θ扫描平面的几何关系,分为同倾法与侧倾法两种测试方式,检测工件表面应力。
2.4 中子衍射法
中子衍射方法和 x射线衍射法原理类似,而中子穿透深度较大,因此可以探测大块材料内部 (厘米量级 )的残余应力分布。
中子衍射峰位的jingque性受衍射强度的影响,在反应堆功率、衍射晶面和规范体积等一定的条件下,衍射强度主要取决于测试时间。
中子衍射测量残余应力耗时且费用昂贵,通常需要样品的标准体积较大(10mm3),且空间分辨率较差,对材料表层残余应力的测量无能为力 (>100um及以上区域 )。
3 结论
在各工业领域,残余应力测试技术和应用研究受到高度重视,目前测试方法还较少,且各测试方法均有一定的局限性。目前,应用较多为盲孔法和X射线衍射法。
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